双球差校正透射电子显微镜 (JEM-ARM300F)

透射电子显微镜在材料科学、凝聚态物理学、生物学和化学领域中已经是一种常用的研究工具，其最大的优势是具有纳米量级甚至更高的分辨率，利用高性能的透射电子显微镜可以在原子尺度范围内探测物质的结构和化学成份，揭示物质变化的内在显微结构和各种宏观性能之间的关系。相比传统投射电子显微镜，由于球差矫正电子显微镜有效削减了像差，分辨率显著提高。传统投射电子显微镜的分辨率在纳米、亚纳米级，而球差矫正电子显微镜的分辨率则能够达到埃级和亚埃级别，这样能够对材料进行更精细更准确的结构表征。